Bruker Hyperion II to połączenie technologii FT-IR i QCL w jednym urządzeniu, oferujące pomiary w trzech trybach: transmisyjnym, odbiciowym i ATR. Hyperion drugiej generacji to prawdziwa rewolucja w mikroskopii podczerwieni. Obrazowanie QCL pozwala na pozyskiwanie do 30 000 widm na sekundę. Otwiera to nowe możliwości zastosowań między innymi w badaniach materiałowych i life science. System pozwala na pomiary w zakresie spektralnym od VIS do FIR. Mikroskop jest również dostępny w wersji z detektorami jednoelementowymi (TE-MCT, LN2-MCT) oraz matrycami FPA (64 x 64, 128 x 128). Mikroskop Hyperion II to: - pomiary punktowe, mapowanie, obrazowanie, - redukcja koherencji przy obrazowaniu laserowym, - szeroki wybór detektorów jednoelementowych do μ-FT-IR: TE-MCT, LN2-MCT, - detektory FPA do obrazowania 64 x 64 lub 128 x 128 pikseli, - QCL za pośrednictwem modułu do obrazowania laserowego w podczerwieni (ILIM, klasa laserowa 1), - szybkie obrazowanie: 0,1mm2/sek. (FPA, pełne widmo), 6,4mm2/sek. (ILIM, pojedyncza liczba falowa), - szeroki wybór obiektywów: 5x/15x/36x/74x IR, 20x ATR, 15x GIR, 4x/40x VIS, - rozszerzenia zakresów spektralnych od bliskiej podczerwieni (NIR) do dalekiej podczerwieni (FIR).